无损卷封检测系统

产品介绍

XTS X射线卷封及紧密度扫描仪系列，行业专/利产品

SEAMscan XTS™ 无损卷封检测系统，即X射线紧密度扫描仪是一款全新的，无损伤且独立运行的二重卷封和卷封紧密度检测仪器。卷封结构原自然状态检测，系统提高精度，节约时间，节省大量的检测成本。

专为制罐商和罐装厂打造的SEAMscan XTS™无损卷封检测系统拥有高分辨率的卷封检测和功能强大的紧密度自动检测系统，仪器结构紧凑，操作简便。

无损伤检测，节约大量的检测样品

SEAMscan XTS™不需要切割就能完整检测二重卷封内部结构尺寸。

SEAMscan XTS™仅不损伤检测样品的优势，就能为制罐商和罐装厂节约数以十万计的成本。经过二重卷封盖钩皱纹度（卷封紧密度），以及前面提到的卷封内部结构尺寸检测的产品，还能100%的用于销售。SEAMscan XTS™同时能达到FDA对二重卷检测的标准。

SEAMscan XTS也是一款能*适应生产工厂环境的二重卷封检测工具，既实现从卷封外部评估二重卷封质量，又节约检测成本。

不再需要剥离拆卸卷封

世界*与首/创，质检人员不再需要拆卸卷封来查看盖钩的皱纹度。SEAMscan XTS™ X射线紧密度扫描仪自动扫描全部盖钩的皱纹度，测量并报告客观的紧密度数值。

采用专/利技术的SEAMscan XTS™ X射线紧密度扫描仪，无需人员参与检测，能耗更低，采用无损伤的X射线检测二重卷封内部结构。

“我们在20世纪90年代就能够通过我们的SEAMscan软件配合投影设备检测盖钩皱纹度”CMC-KUHNKE的CEO Alex Grossjohann说道,“但是那套系统仅看到从二重卷封上拆卸下来的盖钩的表面影像。XTS不单单是在不损伤卷封的情况下检测盖钩皱纹度，检测的详细程度也是比传统检测方式高出很多。”

不再评估紧密度，而是测量紧密度

人为错误已经成为过去——至少在二重卷封领域。

X射线紧密度扫描仪检测二重卷封结构尺寸，以及仅有的专/利技术准确的测量卷封内部的皱纹度。盖钩皱纹度的检测结果会自动发送到电脑数据库，电脑可以实时显示卷封质量变化趋势分析结果。

转用的X射线穿过二重卷封，探测盖钩形状的微妙变化。电脑通过程序算法分析卷封内部各个部位的变化情况，以确定是否对卷封的密封情况造成影响。检测结果可以使紧密度百分比，亦或是皱纹度或紧密度平均值的形式显示。

通过行Virtual Seam Teardown™（卷封虚拟拆卸）功能，可以看到身钩和盖钩彼此叠接的真实情况，是以往无法想象的。

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